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XRF测厚仪测到的是厚度还是单位面积质量｜日立 FT110A
明确层密度、组成和基体模型；保存拟合采用的结构参数。线性厚度来自模型换算，密度假设错误时读数可重复却不准确。
选型时需要明确的任务
台式XRF镀层分析需要确定层序、组成、基体和参考，空间定位与模型同样重要。
把任务落实到核对清单
将样品、配置、参考及判读条件随原始记录保存，便于比较。
| 核对环节 | 需要明确的内容 |
|---|---|
| 任务重点 | 明确层密度、组成和基体模型 |
| 测量条件 | 保存拟合采用的结构参数 |
| 解释范围 | 线性厚度来自模型换算，密度假设错误时读数可重复却不准确 |
层结构不明时，稳定拟合也可能错误
测厚解释依赖层序、组成与基体。密度或材料假设错误时，软件仍可能给出平稳的厚度结果。先核对实际结构和参考，再检查模型参数相关性；未知层系可用独立方法补证，不用默认模板猜齐。
配置与结果的解释范围
线性厚度来自模型换算，密度假设错误时读数可重复却不准确。
产品资料与本次检测任务的边界
日本日立 Hitachi FT110A型号资料与配置核对 ↗：日立 FT110A 台式 XRF 镀层测厚仪。本篇主产品资料入口；用于核对本文讨论任务所需的附件、配置与方法条件，不把型号名称视为应用效果证明。
方法与厂商参考资料
参数及应用条件可通过以下原厂与方法资料核对。