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D6 PHASER
X射线衍射 XRD
布鲁克 Bruker D6 PHASER 用于X射线衍射 XRD，适用任务包括常规粉末衍射（反射与透射两种几何）、薄膜与镀层的掠入射衍射（GID）与 X 射线反射率（XRR）膜厚与粗糙度分析。请先确认这些任务与实际样品、附件及验收条件是否一致。
适用任务与应用方向
- 常规粉末衍射（反射与透射两种几何）
- 薄膜与镀层的掠入射衍射（GID）与 X 射线反射率（XRR）膜厚与粗糙度分析
- 块体样品的残余应力测定
- 织构与取向分布函数（ODF）分析
- 变温 / 非环境衍射（配合 BTS 150/500 温度腔体）
- 毛细管透射测量，适合微量与易取向样品
- 需要在粉末衍射之外扩展多种分析方法的综合实验室
- 在用 D2 PHASER 实验室的升级选型与换购评估
配置与技术资料
参数须连同测试条件和选配附件确认。
| 资料项目 | 现有资料表述 |
|---|---|
| 测角仪 | θ/θ 构型，样品始终保持水平，粉末不会脱落 |
| 高压发生器 | 40 kV / 30 kV，600 W 或 1200 W（30 kV 版本 540 W） |
| 冷却系统 | 内置冷却器（无需额外水冷） |
| 探测器 | SSD160-2（160 通道硅带探测器）/ LYNXEYE-2（超快一维）/ LYNXEYE XE-T（超灵敏能量色散型一维） |
| 样品台 | 固定台、12 位旋转台、BTS 150/500 温度腔体、毛细管台、通用台（Omega/z 轴可移动） |
| 可测几何 | 反射、透射、非环境衍射、掠入射衍射 GID、X 射线反射率 XRR、应力、织构 |
| 电气规格 | 110-240 V AC / 200-240 V AC，47-63 Hz，支持普通家用墙壁插座 |
围绕 D6 PHASER 的选型核对
| 维度 | 判断依据 | 咨询前准备 |
|---|---|---|
| 粉末、块体或薄膜 | 样品形态决定样品台、测量几何及基底干扰处理。 | 样品能否研磨，是否空气敏感，是否需保留完整器件？ |
| 定性还是定量 | 物相检索与定量拟合需要不同的数据库、模型和质量控制。 | 需要确认物相名称，还是给出含量、晶格参数及其不确定度？ |
| 弱峰与重复性 | 扫描条件、制样取向和背景会影响少量相判断。 | 能否提供代表样、已知对照样和需要判定的杂相？ |
附件、耗材与安装条件
分别列出光源、测量几何、探测器、样品台、数据库与分析软件；原位或薄膜附件单独计项。
核对样品验证与交付服务范围 →先明确方法边界
- 非晶组分与少量相的判断需匹配模型、对照和方法验证。
- 电极晶相正确不代表容量、循环寿命或离子电导率已经合格。
相关行业与检测任务
常见问题
D6 PHASER 的采购配置表应列出哪些内容？
分别列出光源、测量几何、探测器、样品台、数据库与分析软件；原位或薄膜附件单独计项。
询价 布鲁克 Bruker D6 PHASER 前需提供哪些样品条件？
目标任务可从常规粉末衍射（反射与透射两种几何）、薄膜与镀层的掠入射衍射（GID）与 X 射线反射率（XRR）膜厚与粗糙度分析开始说明；还需补充：样品能否研磨，是否空气敏感，是否需保留完整器件？；需要确认物相名称，还是给出含量、晶格参数及其不确定度？；能否提供代表样、已知对照样和需要判定的杂相？
如何核对 D6 PHASER 报价与验收范围？
请将主机型号、测角仪、高压发生器、选件、软件和服务逐项对应。验收需约定代表样、测试条件和输出结果，具体价格、交期与服务以双方确认方案为准。
方法与厂商参考资料
参数及应用条件可通过以下原厂与方法资料核对。
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