↗日立火花直读光谱仪
品牌与型号资料
选项关注要点
| 选型维度 | 为什么影响结果 | 需要提供的信息 |
|---|---|---|
| 基体与分析程序 | 铁、铝、铜等基体需要适配的校准和干扰处理。 | 日常有哪些合金体系，关键元素的下限与上限各是多少？ |
| 样品尺寸与表面 | 平整度、孔洞、氧化层和夹持状态影响稳定激发。 | 是炉前试样、薄片、棒材还是小零件，允许怎样制样？ |
| 运行与追溯 | 漂移校正、标准样品和数据导出影响连续生产使用。 | 每天分析多少样品，如何复核临界值，需保留哪些原始记录？ |
方法的适用边界
- 不把固体金属火花直读等同于溶液 ICP-OES。
- OE750 的特定气体元素应用不能推定为 OE720 或 FOUNDRY-MASTER Smart 2 的默认能力。
- 半导体超痕量杂质或掺杂深度剖面不属于本线默认能力。
重点行业中的相关任务
常见问题
不同金属能用同一条校准曲线吗？
通常不能。必须核对相应基体与浓度范围的分析程序，并用合适的有证标准物质或控制样检查结果。
火花直读能代替手持 XRF 的所有工作吗？
两者使用条件不同。火花直读需合适的导电试样与激发面；现场快速分选可考虑手持 XRF，关键元素是否覆盖应单独核对。
方法与厂商参考资料
参数及应用条件可通过以下原厂与方法资料核对。