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OE720
台式火花直读光谱仪
台式火花直读光谱仪，面向钢铁及有色合金的炉前控制、来料和成品检验。需要低含量残余元素分析时，应按实际基体校准、标样和试测结果确认；不可把 OE750 的气体元素应用直接套用到 OE720。
适用任务与应用方向
- 钢铁与有色合金元素定量
- 铸造炉前与成品质量控制
配置与技术资料
参数须连同测试条件和选配附件确认。
| 资料项目 | 现有资料表述 |
|---|---|
| 设备形式 | 台式 OES |
| 光学系统 | 多 CMOS；具体波段依原厂版本核对 |
| 配置核对 | 基体、低含量元素、制样、氩气及质量控制 |
围绕 OE720 的选型核对
| 维度 | 判断依据 | 咨询前准备 |
|---|---|---|
| 基体与分析程序 | 铁、铝、铜等基体需要适配的校准和干扰处理。 | 日常有哪些合金体系，关键元素的下限与上限各是多少？ |
| 样品尺寸与表面 | 平整度、孔洞、氧化层和夹持状态影响稳定激发。 | 是炉前试样、薄片、棒材还是小零件，允许怎样制样？ |
| 运行与追溯 | 漂移校正、标准样品和数据导出影响连续生产使用。 | 每天分析多少样品，如何复核临界值，需保留哪些原始记录？ |
附件、耗材与安装条件
区分金属基体程序、目标元素范围、标样与制样设备，将氩气条件和激发样品尺寸写入需求。
核对样品验证与交付服务范围 →先明确方法边界
- 不把固体金属火花直读等同于溶液 ICP-OES。
- OE750 的特定气体元素应用不能推定为 OE720 或 FOUNDRY-MASTER Smart 2 的默认能力。
- 半导体超痕量杂质或掺杂深度剖面不属于本线默认能力。
相关行业与检测任务
常见问题
OE720 的采购配置表应列出哪些内容？
区分金属基体程序、目标元素范围、标样与制样设备，将氩气条件和激发样品尺寸写入需求。
询价 日立 Hitachi OE720 前需提供哪些样品条件？
目标任务可从钢铁与有色合金元素定量、铸造炉前与成品质量控制开始说明；还需补充：日常有哪些合金体系，关键元素的下限与上限各是多少？；是炉前试样、薄片、棒材还是小零件，允许怎样制样？；每天分析多少样品，如何复核临界值，需保留哪些原始记录？
如何核对 OE720 报价与验收范围？
请将主机型号、设备形式、光学系统、选件、软件和服务逐项对应。验收需约定代表样、测试条件和输出结果，具体价格、交期与服务以双方确认方案为准。
方法与厂商参考资料
参数及应用条件可通过以下原厂与方法资料核对。
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