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D8 ADVANCE
X射线衍射 XRD
布鲁克 Bruker D8 ADVANCE 用于X射线衍射 XRD，适用任务包括物相定性分析与物相定量分析（含无标样定量）、结晶度及非晶相含量分析。请先确认这些任务与实际样品、附件及验收条件是否一致。
适用任务与应用方向
- 物相定性分析与物相定量分析（含无标样定量）
- 结晶度及非晶相含量分析
- 结构精修与晶体结构解析
- 点阵参数精确测量
- 微观应变分析与晶粒尺寸分析
- 残余应力测定
- 织构及 ODF（取向分布函数）分析
- 薄膜掠入射（GID）与薄膜反射率（XRR）测量
配置与技术资料
参数须连同测试条件和选配附件确认。
| 资料项目 | 现有资料表述 |
|---|---|
| 测角仪 | theta/theta 立式测角仪 |
| 2Theta 角度范围 | -110° ~ 168° |
| 角度精度 | 0.0001 度 |
| X 光管 | Cr / Co / Cu 靶，标准尺寸光管 |
| 探测器 | 林克斯（LynxEye）阵列探测器、林克斯 XE 阵列探测器，强度提升可达 150 倍 |
| 光路系统 | TWIN-TWIN 光路，聚焦几何与平行光几何全自动切换，无需对光 |
| 光源切换 | TWIST TUBE 技术，1 分钟内完成线光源 ↔ 点光源切换 |
围绕 D8 ADVANCE 的选型核对
| 维度 | 判断依据 | 咨询前准备 |
|---|---|---|
| 粉末、块体或薄膜 | 样品形态决定样品台、测量几何及基底干扰处理。 | 样品能否研磨，是否空气敏感，是否需保留完整器件？ |
| 定性还是定量 | 物相检索与定量拟合需要不同的数据库、模型和质量控制。 | 需要确认物相名称，还是给出含量、晶格参数及其不确定度？ |
| 弱峰与重复性 | 扫描条件、制样取向和背景会影响少量相判断。 | 能否提供代表样、已知对照样和需要判定的杂相？ |
附件、耗材与安装条件
分别列出光源、测量几何、探测器、样品台、数据库与分析软件；原位或薄膜附件单独计项。
核对样品验证与交付服务范围 →先明确方法边界
- 非晶组分与少量相的判断需匹配模型、对照和方法验证。
- 电极晶相正确不代表容量、循环寿命或离子电导率已经合格。
相关行业与检测任务
常见问题
D8 ADVANCE 的采购配置表应列出哪些内容？
分别列出光源、测量几何、探测器、样品台、数据库与分析软件；原位或薄膜附件单独计项。
询价 布鲁克 Bruker D8 ADVANCE 前需提供哪些样品条件？
目标任务可从物相定性分析与物相定量分析（含无标样定量）、结晶度及非晶相含量分析开始说明；还需补充：样品能否研磨，是否空气敏感，是否需保留完整器件？；需要确认物相名称，还是给出含量、晶格参数及其不确定度？；能否提供代表样、已知对照样和需要判定的杂相？
如何核对 D8 ADVANCE 报价与验收范围？
请将主机型号、测角仪、2Theta 角度范围、选件、软件和服务逐项对应。验收需约定代表样、测试条件和输出结果，具体价格、交期与服务以双方确认方案为准。
方法与厂商参考资料
参数及应用条件可通过以下原厂与方法资料核对。
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