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XRD靶材与荧光背景,为什么要一起考虑|布鲁克 D8 ADVANCE

按样品主要元素和吸收背景比较光源、滤光及探测方案。峰看不清可能是背景或几何问题,不能只用更长扫描时间解决所有样品。

XRD靶材与荧光背景,为什么要一起考虑|布鲁克 D8 ADVANCE:主题封面
产品介绍 · D8 ADVANCE

选型时需要明确的任务

布鲁克 D8 ADVANCE X 射线衍射仪(布鲁克中文官网产品图)
D8 ADVANCE(布鲁克 Bruker)设备图 · 来源见产品页资料说明

衍射提供晶体相与结构信息;定量、应力、织构、薄膜与原位任务需要各自配置和模型。

参考:L1 · 高测具体产品资料:D8 ADVANCE;P1 · Bruker D8 ADVANCE 原厂产品页

把配置问题落实到核对清单

建议把以下条件随委托单和原始数据一起保存,便于不同样品或批次按相同口径比较。

核对环节需要明确的内容
任务重点按样品主要元素和吸收背景比较光源、滤光及探测方案
解释范围峰看不清可能是背景或几何问题,不能只用更长扫描时间解决所有样品

参考:P1 · Bruker D8 ADVANCE 原厂产品页

XRD靶材与荧光背景,为什么要一起考虑|布鲁克 D8 ADVANCE:样品与技术条件示意
围绕本文检测任务绘制的技术示意图,不代表实测结果。

没看到峰不等于目标组分绝对不存在

峰重叠、背景、含量和非晶状态会影响可见性。检出能力应针对具体目标相与基体验证,不给所有样品一个通用百分数。元素可分布于多个相,不能凭元素总量直接替代物相比例,反向换算同样需要模型。

参考:P1 · Bruker D8 ADVANCE 原厂产品页

配置比较的判断边界

峰看不清可能是背景或几何问题,不能只用更长扫描时间解决所有样品。

参考:P1 · Bruker D8 ADVANCE 原厂产品页

对应设备与配置资料

布鲁克 Bruker AXS D8 ADVANCE型号资料与配置核对 ↗:布鲁克 D8 ADVANCE X 射线衍射仪。配置沟通时可提供样品状态、代表性与制样、光源、几何、扫描与背景,并约定代表样与测量程序。

参考:L1 · 高测具体产品资料:D8 ADVANCE

方法与厂商参考资料

参数及应用条件可通过以下原厂与方法资料核对。

本文涉及的仪器(点击核对配置与适用范围)

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