↗X 射线衍射 XRD
X 射线衍射通过衍射峰的位置、强度与形状研究晶相和结构，适合判断粉体合成后是否得到目标相、批次间是否出现杂相。选型应先区分常规粉末物相、定量分析与薄膜结构任务，再核对制样、光学系统和分析软件；一张衍射图不能直接给出全部元素含量或电化学性能。
相关名称与检索词 X射线衍射仪 · 粉末XRD · XRPD · 物相分析 · 晶体结构分析
选型时要逐项确认
| 选型维度 | 为什么影响结果 | 需要提供的信息 |
|---|---|---|
| 粉末、块体或薄膜 | 样品形态决定样品台、测量几何及基底干扰处理。 | 样品能否研磨，是否空气敏感，是否需保留完整器件？ |
| 定性还是定量 | 物相检索与定量拟合需要不同的数据库、模型和质量控制。 | 需要确认物相名称，还是给出含量、晶格参数及其不确定度？ |
| 弱峰与重复性 | 扫描条件、制样取向和背景会影响少量相判断。 | 能否提供代表样、已知对照样和需要判定的杂相？ |
方法的适用边界
- 非晶组分与少量相的判断需匹配模型、对照和方法验证。
- 电极晶相正确不代表容量、循环寿命或离子电导率已经合格。
重点行业中的相关任务
品牌与型号资料
常见问题
XRD 能测出样品里的所有元素吗？
不能。XRD 主要提供晶相和结构信息；元素含量通常需要适合基体的元素分析方法补充，不能把“未检出某晶相”解释为“不含某元素”。
粉末 XRD 能直接用于晶圆上的超薄膜吗？
不能按名称直接类推。薄膜信号可能受基底淹没，需核对掠入射、高分辨或反射测量等专用配置；当前型号资料不等于已包含这些附件。
方法与厂商参考资料
参数及应用条件可通过以下原厂与方法资料核对。