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日立 FT110A 台式 XRF 镀层测厚仪产线应用实拍

FT110A

XRF镀层测厚

日立 Hitachi FT110A 用于XRF镀层测厚,适用任务包括电镀车间在线与离线镀层厚度质控、大型工件与批量零件的镀层全检。请先确认这些任务与实际样品、附件及验收条件是否一致。

适用任务与应用方向

  • 电镀车间在线与离线镀层厚度质控
  • 大型工件与批量零件的镀层全检
  • 多层镀层(如 Ni/Cu/Ag 体系)逐层测厚
  • 电镀液成分分析
  • 汽车、五金、连接器、紧固件的表面处理验收

配置与技术资料

参数须连同测试条件和选配附件确认。

资料项目现有资料表述
元素范围Ti(22) – U(92)
探测器正比计数器系统
样品舱设计开闭式 或 开槽式
准直器数量2 或 4 个
最小准直器尺寸0.025 × 0.4 mm
XY 轴样品台程控 或 固定
XY 轴样品台行程250 × 200 mm

围绕 FT110A 的选型核对

维度判断依据咨询前准备
层结构与元素重叠相邻层或基底中的同种元素可能影响信号分离。每层材料、顺序、合金组成及基材分别是什么?
测点和工件几何光斑需落在目标区域,凹槽、曲面和高度差影响几何。最小测试区域多大,有无工件照片、图纸或定位基准?
校准与验收测量时间、标样和比对方法会改变可达的不确定度。需要判定的厚度公差是多少,采用什么参考方法?

附件、耗材与安装条件

写明基材、层序、厚度区间、测点尺寸和校准样片,核对测厚配置与样品定位。

核对样品验证与交付服务范围 →

先明确方法边界

  • 厚度合格不能替代附着力、孔隙率或耐腐蚀评价。
  • 光斑、测试距离和材料组合需要随具体配置验证。
阅读 XRF 镀层测厚 完整方法说明 →

常见问题

FT110A 的采购配置表应列出哪些内容?

写明基材、层序、厚度区间、测点尺寸和校准样片,核对测厚配置与样品定位。

询价 日立 Hitachi FT110A 前需提供哪些样品条件?

目标任务可从电镀车间在线与离线镀层厚度质控、大型工件与批量零件的镀层全检开始说明;还需补充:每层材料、顺序、合金组成及基材分别是什么?;最小测试区域多大,有无工件照片、图纸或定位基准?;需要判定的厚度公差是多少,采用什么参考方法?

如何核对 FT110A 报价与验收范围?

请将主机型号、元素范围、探测器、选件、软件和服务逐项对应。验收需约定代表样、测试条件和输出结果,具体价格、交期与服务以双方确认方案为准。

相关选型与方法指南

方法与厂商参考资料

参数及应用条件可通过以下原厂与方法资料核对。

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