按测厚标准验收，平均值与局部值怎么区分｜日立 FT110A

本次样品与测量目标

本文从ISO 3497:2000 金属镀层X射线光谱测厚方法的官方目录身份出发，讨论与FT110A有关的方法准备。由产品规范约定测点与统计规则，保存每点原始结果。

参考：S1 · ISO 3497:2000 金属镀层X射线光谱测厚方法

把任务落实到核对清单

将样品、配置、参考及判读条件随原始记录保存，便于比较。

参考：P1 · Hitachi 原厂台式XRF测厚产品资料；S1 · ISO 3497:2000 金属镀层X射线光谱测厚方法

参考必须与层系和范围相匹配

元素片或其它镀层结构的参考，不能不经验证就支撑当前多层方法。参考检查用于评价状态，代表件还要检验几何和模型。将短期重复性、独立参考偏倚与位置变异分别保存，避免一个指标包揽准确性。

参考：P1 · Hitachi 原厂台式XRF测厚产品资料

统一口径后再比较数值与方案

X射线测厚方法、产品要求与仪器验收是三层依据。先明确采用版本、结果单位和测点规则，再比较设备或供应商数据。不将通用方法标准写成某型号对全部材料和任意厚度的性能保证。

参考：P1 · Hitachi 原厂台式XRF测厚产品资料

配置与结果的解释范围

平均值满足要求不能自动替代局部最薄点判定。

参考：P1 · Hitachi 原厂台式XRF测厚产品资料；S1 · ISO 3497:2000 金属镀层X射线光谱测厚方法

产品资料与本次检测任务的边界

日本日立 Hitachi FT110A型号资料与配置核对 ↗：日立 FT110A 台式 XRF 镀层测厚仪。本篇主产品资料入口；用于核对本文讨论任务所需的附件、配置与方法条件，不把型号名称视为应用效果证明。

参考：L1 · 高测具体产品资料：FT110A

本文涉及的仪器（点击核对配置与适用范围）