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测厚结果突然跳变，先检查哪些非故障因素｜日立 FT110A
复测稳定参考并核对对焦、测点、表面清洁和方法文件。不要立刻调整校准去追随未知样，先判断定位和表面差异再联系服务。
选型时需要明确的任务
台式XRF镀层分析需要确定层序、组成、基体和参考，空间定位与模型同样重要。
把任务落实到核对清单
将样品、配置、参考及判读条件随原始记录保存，便于比较。
| 核对环节 | 需要明确的内容 |
|---|---|
| 任务重点 | 复测稳定参考并核对对焦、测点、表面清洁和方法文件 |
| 解释范围 | 不要立刻调整校准去追随未知样，先判断定位和表面差异再联系服务 |
参考必须与层系和范围相匹配
元素片或其它镀层结构的参考，不能不经验证就支撑当前多层方法。参考检查用于评价状态，代表件还要检验几何和模型。将短期重复性、独立参考偏倚与位置变异分别保存，避免一个指标包揽准确性。
配置与结果的解释范围
不要立刻调整校准去追随未知样，先判断定位和表面差异再联系服务。
产品资料与本次检测任务的边界
日本日立 Hitachi FT110A型号资料与配置核对 ↗：日立 FT110A 台式 XRF 镀层测厚仪。本篇主产品资料入口；用于核对本文讨论任务所需的附件、配置与方法条件，不把型号名称视为应用效果证明。
方法与厂商参考资料
参数及应用条件可通过以下原厂与方法资料核对。