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镀金首饰无损检查，厚度与纯度怎么分开｜日立 FT110A
区分表层结构、基体组成和整体含量任务；保存使用模型。表面镀层测厚不能证明首饰整体贵金属纯度，也不能替代交易仲裁方法。
本次样品与测量目标
区分表层结构、基体组成和整体含量任务，保存使用模型。
参考：L1 · 高测具体产品资料：FT110A；P1 · Hitachi 原厂台式XRF测厚产品资料；M1 · Fischer：XRF Method FAQ
把任务落实到核对清单
将样品、配置、参考及判读条件随原始记录保存，便于比较。
| 核对环节 | 需要明确的内容 |
|---|---|
| 任务重点 | 区分表层结构、基体组成和整体含量任务 |
| 测量条件 | 保存使用模型 |
| 解释范围 | 表面镀层测厚不能证明首饰整体贵金属纯度，也不能替代交易仲裁方法 |
层结构不明时，稳定拟合也可能错误
测厚解释依赖层序、组成与基体。密度或材料假设错误时，软件仍可能给出平稳的厚度结果。先核对实际结构和参考，再检查模型参数相关性；未知层系可用独立方法补证，不用默认模板猜齐。
厚度不代表所有使用性能
局部厚度无法独立说明孔隙、裂纹、附着和整体纯度。根据真正要判断的问题，补充表面、截面、耐蚀或功能试验。不要从厚度数值换算未经验证的使用寿命、盐雾小时或贵金属整体含量。
配置与结果的解释范围
表面镀层测厚不能证明首饰整体贵金属纯度，也不能替代交易仲裁方法。
产品资料与本次检测任务的边界
日本日立 Hitachi FT110A型号资料与配置核对 ↗：日立 FT110A 台式 XRF 镀层测厚仪。本篇主产品资料入口；用于核对本文讨论任务所需的附件、配置与方法条件，不把型号名称视为应用效果证明。
方法与厂商参考资料
参数及应用条件可通过以下原厂与方法资料核对。