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吸光度很高时，何时改光程而不是继续加积分时间｜日立 UH4150 / UH4150AD+
先用空白和低透过参考件检查杂散光与基线；再比较不同光程样品的响应。延长积分时间主要改善计数统计，不能消除杂散光造成的系统偏差；高吸光度结论要有独立验证。
选型时需要明确的任务
透射、反射与吸收需要不同的样品条件；附件、检测器和计算口径共同决定实际任务覆盖。
参考：L1 · 高测具体产品资料：UH4150 / UH4150AD+；P1 · Hitachi UH4150 原厂产品资料
把任务落实到核对清单
将样品、配置、参考及判读条件随原始记录保存，便于比较。
| 核对环节 | 需要明确的内容 |
|---|---|
| 任务重点 | 先用空白和低透过参考件检查杂散光与基线 |
| 测量条件 | 再比较不同光程样品的响应 |
| 解释范围 | 延长积分时间主要改善计数统计，不能消除杂散光造成的系统偏差；高吸光度结论要有独立验证 |
增加计数不能补偿系统偏差
低透射测量时，背景和杂散光可能决定能够可靠区分的范围。延长采集只会改善一部分统计波动，不能把错误基线变正确。先用空白和适当参考检查有效范围，再选择光程、稀释或更合适的配置。
配置与结果的解释范围
延长积分时间主要改善计数统计，不能消除杂散光造成的系统偏差；高吸光度结论要有独立验证。
产品资料与本次检测任务的边界
日本日立 Hitachi UH4150 / UH4150AD+型号资料与配置核对 ↗：日立 UH4150 紫外可见近红外分光光度计。本篇主产品资料入口；用于核对本文讨论任务所需的附件、配置与方法条件，不把型号名称视为应用效果证明。
方法与厂商参考资料
参数及应用条件可通过以下原厂与方法资料核对。