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人脸识别红外滤光片,通带与带外抑制如何兼顾|日立 UH4150 / UH4150AD+
对通带透射与低透过区分别检查量程、基线和杂散光;保存检测器切换信息。峰值透射高并不证明带外抑制足够,低透过结果需与有效动态范围一起报告。
本次样品与测量目标

对通带透射与低透过区分别检查量程、基线和杂散光,保存检测器切换信息。
参考:L1 · 高测具体产品资料:UH4150 / UH4150AD+;P1 · Hitachi UH4150 原厂产品资料
测量前记录这些条件
建议把以下条件随委托单和原始数据一起保存,便于不同样品或批次按相同口径比较。
| 核对环节 | 需要明确的内容 |
|---|---|
| 任务重点 | 对通带透射与低透过区分别检查量程、基线和杂散光 |
| 测量条件 | 保存检测器切换信息 |
| 解释范围 | 峰值透射高并不证明带外抑制足够,低透过结果需与有效动态范围一起报告 |
增加计数不能补偿系统偏差
低透射测量时,背景和杂散光可能决定能够可靠区分的范围。延长采集只会改善一部分统计波动,不能把错误基线变正确。先用空白和适当参考检查有效范围,再选择光程、稀释或更合适的配置。
结果的解释范围
峰值透射高并不证明带外抑制足够,低透过结果需与有效动态范围一起报告。
对应设备与配置资料
日本日立 Hitachi UH4150 / UH4150AD+型号资料与配置核对 ↗:日立 UH4150 紫外可见近红外分光光度计。配置沟通时可提供试样结构与测量面、入射角、光斑与附件,并约定代表样与测量程序。
方法与厂商参考资料
参数及应用条件可通过以下原厂与方法资料核对。
