减反射膜光学镜片，怎样区分材料与镀膜影响｜日立 UH4150 / UH4150AD+

本次样品与测量目标

用相同基片作对照，固定入射角与测量面，同时观察透射、反射变化。

参考：L1 · 高测具体产品资料：UH4150 / UH4150AD+；P1 · Hitachi UH4150 原厂产品资料

测量前记录这些条件

建议把以下条件随委托单和原始数据一起保存，便于不同样品或批次按相同口径比较。

参考：P1 · Hitachi UH4150 原厂产品资料

带宽与角度会参与决定曲线形状

窄带光学件的边缘可能比仪器带宽更陡。带宽、入射角和光斑位置若改变，测得的截止或峰值也会改变。比较时保存原始扫描条件和完整曲线，约定判读规则；不要只截取一张经过平滑的图作为验收证据。

参考：P1 · Hitachi UH4150 原厂产品资料

结果的解释范围

吸收、散射和反射损失不能从单一透射曲线任意拆分；必要时追加积分球或表面检测。

参考：P1 · Hitachi UH4150 原厂产品资料

对应设备与配置资料

日本日立 Hitachi UH4150 / UH4150AD+型号资料与配置核对 ↗：日立 UH4150 紫外可见近红外分光光度计。配置沟通时可提供试样结构与测量面、入射角、光斑与附件，并约定代表样与测量程序。

参考：L1 · 高测具体产品资料：UH4150 / UH4150AD+

本文涉及的仪器（点击核对配置与适用范围）