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透明聚合物薄膜的吸收边与散射损失|日立 UH4150 / UH4150AD+

同厚度薄膜分别测常规透射和积分球总透射;检查夹持皱褶。雾度与总透射是不同测量项目;透射下降未必来自化学吸收,不能直接推断降解产物。

透明聚合物薄膜的吸收边与散射损失|日立 UH4150 / UH4150AD+:主题封面
高测仪器 · 技术与应用笔记

本次样品与测量目标

日立 UH4150 紫外可见近红外分光光度计整机外观
UH4150 / UH4150AD+(日立 Hitachi)设备图 · 来源见产品页资料说明

同厚度薄膜分别测常规透射和积分球总透射,检查夹持皱褶。

参考:L1 · 高测具体产品资料:UH4150 / UH4150AD+;P1 · Hitachi UH4150 原厂产品资料

把任务落实到核对清单

将样品、配置、参考及判读条件随原始记录保存,便于比较。

核对环节需要明确的内容
任务重点同厚度薄膜分别测常规透射和积分球总透射
测量条件检查夹持皱褶
解释范围雾度与总透射是不同测量项目;透射下降未必来自化学吸收,不能直接推断降解产物

参考:P1 · Hitachi UH4150 原厂产品资料

透明聚合物薄膜的吸收边与散射损失|日立 UH4150 / UH4150AD+:样品与技术条件示意
围绕本文检测任务绘制的技术示意图,不代表实测结果。

厚度与界面要作为样品信息保留

光穿过的距离、两侧界面以及表面状态都会影响透射。比较不同厚度样片时,不能直接把较低透射归为材料吸收更强。对于多层结构,还要说明结果代表整件还是某一单层,不以整体曲线任意反推各层贡献。

参考:P1 · Hitachi UH4150 原厂产品资料

带宽与角度会参与决定曲线形状

窄带光学件的边缘可能比仪器带宽更陡。带宽、入射角和光斑位置若改变,测得的截止或峰值也会改变。比较时保存原始扫描条件和完整曲线,约定判读规则;不要只截取一张经过平滑的图作为验收证据。

参考:P1 · Hitachi UH4150 原厂产品资料

配置与结果的解释范围

雾度与总透射是不同测量项目;透射下降未必来自化学吸收,不能直接推断降解产物。

参考:P1 · Hitachi UH4150 原厂产品资料

产品资料与本次检测任务的边界

日本日立 Hitachi UH4150 / UH4150AD+型号资料与配置核对 ↗:日立 UH4150 紫外可见近红外分光光度计。本篇主产品资料入口;用于核对本文讨论任务所需的附件、配置与方法条件,不把型号名称视为应用效果证明。

参考:L1 · 高测具体产品资料:UH4150 / UH4150AD+

方法与厂商参考资料

参数及应用条件可通过以下原厂与方法资料核对。

本文涉及的仪器(点击核对配置与适用范围)

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