透明导电膜，透光与导电如何分开验收｜日立 UH4150 / UH4150AD+

本次样品与测量目标

同区域测光谱，电阻另用适合的电学方法；膜厚和基底作为共同追溯信息。

参考：L1 · 高测具体产品资料：UH4150 / UH4150AD+；P1 · Hitachi UH4150 原厂产品资料

把任务落实到核对清单

将样品、配置、参考及判读条件随原始记录保存，便于比较。

参考：P1 · Hitachi UH4150 原厂产品资料

厚度与界面要作为样品信息保留

光穿过的距离、两侧界面以及表面状态都会影响透射。比较不同厚度样片时，不能直接把较低透射归为材料吸收更强。对于多层结构，还要说明结果代表整件还是某一单层，不以整体曲线任意反推各层贡献。

参考：P1 · Hitachi UH4150 原厂产品资料

带宽与角度会参与决定曲线形状

窄带光学件的边缘可能比仪器带宽更陡。带宽、入射角和光斑位置若改变，测得的截止或峰值也会改变。比较时保存原始扫描条件和完整曲线，约定判读规则；不要只截取一张经过平滑的图作为验收证据。

参考：P1 · Hitachi UH4150 原厂产品资料

配置与结果的解释范围

高透过不证明低电阻，综合评价必须把两组可追溯数据放在同一样品编号下。

参考：P1 · Hitachi UH4150 原厂产品资料

产品资料与本次检测任务的边界

日本日立 Hitachi UH4150 / UH4150AD+型号资料与配置核对 ↗：日立 UH4150 紫外可见近红外分光光度计。本篇主产品资料入口；用于核对本文讨论任务所需的附件、配置与方法条件，不把型号名称视为应用效果证明。

参考：L1 · 高测具体产品资料：UH4150 / UH4150AD+

本文涉及的仪器（点击核对配置与适用范围）