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高温合金维修件，油污与氧化皮如何影响PMI｜日立 X-MET8000 Smart / Optimum / Expert
在允许制样的位置获得代表性表面；对比原表面与处理后结果。被污染表面不能直接代表基体，清理方式必须遵守工件工艺及安全要求。
本次样品与测量目标
在允许制样的位置获得代表性表面，对比原表面与处理后结果。
参考：L1 · 高测具体产品资料：X-MET8000 Smart / Optimum / Expert；P1 · Hitachi X-MET8000 官方产品页
把任务落实到核对清单
将样品、配置、参考及判读条件随原始记录保存，便于比较。
| 核对环节 | 需要明确的内容 |
|---|---|
| 任务重点 | 在允许制样的位置获得代表性表面 |
| 测量条件 | 对比原表面与处理后结果 |
| 解释范围 | 被污染表面不能直接代表基体，清理方式必须遵守工件工艺及安全要求 |
分析区域与表面结构决定代表范围
XRF响应可能同时包含表层与基体，有限测区也可能混入相邻材料。先确认目标层次与光斑覆盖，再决定是否需要制样或更适合的微区方法。摄像头看清不等于全部信号来自想测区域。
不同元素能力不能靠算法名称补齐
具体型号、激发和校准会限定可测范围。X-MET8000不用于碳判定，气体及其它未覆盖元素需要适用方法。缺失项目应显示为未测或待补，不用牌号库、化学式或其它样品结果推算替代。
配置与结果的解释范围
被污染表面不能直接代表基体，清理方式必须遵守工件工艺及安全要求。
产品资料与本次检测任务的边界
日本日立 Hitachi X-MET8000 Smart / Optimum / Expert型号资料与配置核对 ↗：日立 X-MET8000 系列手持式 XRF 光谱仪。本篇主产品资料入口；用于核对本文讨论任务所需的附件、配置与方法条件，不把型号名称视为应用效果证明。
方法与厂商参考资料
参数及应用条件可通过以下原厂与方法资料核对。