贵金属首饰筛查，镀层为什么容易误导｜日立 X-MET8000 Smart / Optimum / Expert

本次样品与测量目标

先识别是否镀金或复合结构，核对基体和测量模式，必要时增加验证。

参考：L1 · 高测具体产品资料：X-MET8000 Smart / Optimum / Expert；P1 · Hitachi X-MET8000 官方产品页

把任务落实到核对清单

将样品、配置、参考及判读条件随原始记录保存，便于比较。

参考：P1 · Hitachi X-MET8000 官方产品页

分析区域与表面结构决定代表范围

XRF响应可能同时包含表层与基体，有限测区也可能混入相邻材料。先确认目标层次与光斑覆盖，再决定是否需要制样或更适合的微区方法。摄像头看清不等于全部信号来自想测区域。

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配置与结果的解释范围

表层贵金属信号不等于整体纯度，不能把无损筛查写成仲裁或定价保证。

参考：P1 · Hitachi X-MET8000 官方产品页

产品资料与本次检测任务的边界

日本日立 Hitachi X-MET8000 Smart / Optimum / Expert型号资料与配置核对 ↗：日立 X-MET8000 系列手持式 XRF 光谱仪。本篇主产品资料入口；用于核对本文讨论任务所需的附件、配置与方法条件，不把型号名称视为应用效果证明。

参考：L1 · 高测具体产品资料：X-MET8000 Smart / Optimum / Expert

本文涉及的仪器（点击核对配置与适用范围）