专业文章
矿石露头快筛，为什么还要实验室制样｜日立 X-MET8000 Smart / Optimum / Expert
记录岩性和测点；比较多点变异，再留代表样做粉碎及方法验证。露头表面可能风化或不均匀，点位读数不能当作矿体品位或储量结论。
本次样品与测量目标
记录岩性和测点，比较多点变异，再留代表样做粉碎及方法验证。
参考：L1 · 高测具体产品资料：X-MET8000 Smart / Optimum / Expert；P1 · Hitachi X-MET8000 官方产品页；M1 · Hitachi：On-Site Soil Contaminant Screening
把任务落实到核对清单
将样品、配置、参考及判读条件随原始记录保存，便于比较。
| 核对环节 | 需要明确的内容 |
|---|---|
| 任务重点 | 记录岩性和测点 |
| 测量条件 | 比较多点变异，再留代表样做粉碎及方法验证 |
| 解释范围 | 露头表面可能风化或不均匀，点位读数不能当作矿体品位或储量结论 |
参考：P1 · Hitachi X-MET8000 官方产品页；M1 · Hitachi：On-Site Soil Contaminant Screening
局部快筛不能代替代表性取样
含水、粒度、不均匀和风化会改变现场响应。记录实际点位与状态，保留能与实验室样品关联的样品链。对整批、矿体或环境区域作结论，还需要相应取样设计与适用检测方法。
参考：P1 · Hitachi X-MET8000 官方产品页；M1 · Hitachi：On-Site Soil Contaminant Screening
配置与结果的解释范围
露头表面可能风化或不均匀，点位读数不能当作矿体品位或储量结论。
参考：P1 · Hitachi X-MET8000 官方产品页；M1 · Hitachi：On-Site Soil Contaminant Screening
产品资料与本次检测任务的边界
日本日立 Hitachi X-MET8000 Smart / Optimum / Expert型号资料与配置核对 ↗：日立 X-MET8000 系列手持式 XRF 光谱仪。本篇主产品资料入口；用于核对本文讨论任务所需的附件、配置与方法条件，不把型号名称视为应用效果证明。
方法与厂商参考资料
参数及应用条件可通过以下原厂与方法资料核对。