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镍钯金引线框架更换测点:
同点重复性为什么不够

镍钯金引线框架从一个测点改到另一个测点,既改变了位置,也可能改变局部层厚和几何。仅凭同一位置连续读数接近,不能证明换位后也具有相同复现性。

镍钯金引线框架更换测点:同点重复性为什么不够:主题封面
高测仪器 · 技术与应用笔记

从实际检验任务开始

日立 Hitachi High-Tech FT160 设备实图
日立 Hitachi High-Tech FT160 设备实图 · 型号资料

镍钯金引线框架从一个测点改到另一个测点,既改变了位置,也可能改变局部层厚和几何。仅凭同一位置连续读数接近,不能证明换位后也具有相同复现性。 日立XRF130分别列出标准箔叠层参考与引线框架实物的FT160测量结果。两者用途不同:前者用于参考与模型背景,后者提供真实引线框架应用证据。这些原厂示例不是高测实测,也没有替任意客户工件完成方法验证。

参考:X130 · XRF130 FT160铜底镍钯金与引线框架

三类试验回答三类问题

固定位置连续测量、取下后重新定位和不同功能区测量,应分组保存。前两组有助于评价方法执行,第三组还可能包含真实镀层分布。把不同区域数据混成一个重复性数字,会同时丢失定位信息和工件信息。

镍钯金引线框架更换测点:同点重复性为什么不够:样品与技术条件示意
围绕本文检测任务绘制的技术示意图,不代表实测结果。

测点变更与位置复现记录

原创工作记录表,不是标准规定的验收限值。

核对对象应保留的实际记录
固定点组零件、区域、方法、测时和同点读数
重定位组取放过程、方向、基准、对焦和测点图
多位置组功能区编号、可测区域、各层结果分别保存
参考验证参考材料身份、方法版本及检查时间

按什么顺序安排验证

先在一个稳定可定位区域建立记录,再按同一基准开展重定位。换到不同区域后,应核对照射范围是否仍完全落在对应结构内。若局部宽度或倾角不同,先确认测量条件,不直接把读数差归为电镀不均。

结果怎样交付与解释

报告逐层保留Au、Pd、Ni结果与位置身份。测点变更应说明方法与夹具是否重验。层厚结果不自动证明键合、焊接或封装可靠性,相关功能需要对应试验。

方法与厂商参考资料

参数及应用条件可通过以下原厂与方法资料核对。

本文涉及的仪器(点击核对配置与适用范围)

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